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    • 薄膜測厚儀
      薄膜測厚儀

      更新時(shí)間：2024-06-04

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      薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進(jìn)行測量，具有非接觸、無(wú)破壞、快速等特點(diǎn)，可在真空環(huán)境使用；可與大行程工件臺配合，實(shí)現大面積膜厚自動(dòng)測量。
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